机载光电成像设备的可测试性系统设计

• 作者: 刘晶红 孙辉 李仕 沈宏海
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 机载设备 光电成像设备 可测试性 故障诊断
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 2435-2440
• 页数: 6页
• 分类号: V243.5
• 字数: 3799字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2008.12.019

摘要

为提高机载光电成像系统的可测试性,对该设备进行了全面的可测试性系统设计.可测试性系统由自测试系统、测试信息口、外部测试系统3部分组成.采用模糊理论与专家系统相结合的方法,解决了目前产品普遍存在的可测试性设计考虑不足、自动化程度不高、故障诊断不到位等问题.实验显示,可测试性系统设计的设备故障诊断率达97%以上,说明在可测试性设计中采用模糊理论与专家系统相结合的方法是行之有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙辉	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	80	1873	25.0	41.0
2	李仕	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	6	65	3.0	6.0
6	刘晶红	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	53	836	17.0	26.0
7	沈宏海	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	37	546	12.0	23.0