内充气正比计数管测量 37 Ar 活度中壁效应的理论研究

• 作者: 亢武 储诚胜 向永春 曹琳
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 37Ar 内充气正比计数管 探测效率 壁效应 MCNP程序
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 物理
• 页码范围: 1077-1081
• 页数: 5页
• 分类号: TL811.2
• 语种: 中文

摘要

通过分析37 Ar 衰变产生的X射线和俄歇电子在内充气正比计数管灵敏体积中的逃逸及计数管在37 Ar 活度测量中的壁效应,得出X射线在正比计数管中的逃逸是产生壁效应的主要原因,提出了压力指数外推方法.使用MCNP模拟X射线和俄歇电子在内充气正比计数管中的输运,模拟结果与理论分析结论一致.比较模拟得出的壁效应值与实验测量的壁效应值可知,实验给出的壁效应值是可信的.本工作的研究结果为37 Ar 测量方法提供了理论支持.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	向永春	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	35	95	5.0	7.0
2	亢武	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	13	32	4.0	4.0
3	储诚胜	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	16	31	3.0	4.0
4	曹琳	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	4	15	3.0	3.0