基于概率密度特性的高阶UT样点设计方法

• 作者: 周一宇 杨争斌 许丹 谢恺
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 非线性 无迹变换 矩近似 样点
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 473-476
• 页数: 4页
• 分类号: TP273
• 字数: 3394字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2008.03.011

摘要

针对 UT 变换通过非线性矩近似方程组获得样点的复杂性,提出了一种基于概率密度特性的高阶 UT样点设计方法.该方法利用高斯概率密度函数导数的极值点与各种对称 Sigma 样点集分布相对应的特性,采用高斯概率密度函数高阶导数的极值得到 Sigma 样点的分布来进行 Sigma 样点设计,提高了估计精度.理论分析推导和仿真实验证明了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周一宇	国防科技大学电子科学与工程学院	213	2756	26.0	34.0
2	杨争斌	国防科技大学电子科学与工程学院	9	60	5.0	7.0
3	谢恺	炮兵学院军用光电工程教研室	8	140	7.0	8.0
4	许丹	国防科技大学电子科学与工程学院	19	160	7.0	12.0