MOA外表污秽对泄漏电流影响的研究

• 作者: 杨洪利
• 来源期刊: 电气技术
• 学科: 工学
• 关键词: MOA 泄漏电流 污秽
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TM7
• 字数: 3503字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3800.2008.11.009

摘要

当MOA表面存在污秽时,泄漏电流及其阻性分量不仅受瓷套表面污层电阻的影响,而且还受到污层与阀片柱间耦合电容的影响.分析表明通过检测接地线泄漏电流很难真实反映MOA的运行状况;泄漏电流及其阻性分量受污层电阻的影响大于受耦合电容的影响;阻性电流的检测误差大于全电流的检测误差;污秽干区越靠近MOA下部,泄漏电流的检测误差则主要由耦合电容产生.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨洪利		2	7	2.0	2.0