发光二极管开路失效分析

• 作者: 蔡伟智
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 发光二极管 开路 失效模式 失效机理
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: TN312.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.06.022

摘要

本文简述了发光二极管结构原理.对发光二极管开路失效模式进行全面分析,确定不同的失效机理及所对应的失效原因,并提出针对性的改善措施和筛选方法,达到提高发光二极管质量和可靠性的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡伟智		9	38	5.0	5.0