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摘要:
采用粉末压片制样,用X射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物等样品中C、N、F、S、Cl、Br、Na、Mg、Al、Si、P、K、Ca、Ti、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pb、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Th、U、Ba、La、Ce、Nd、Ge、Yb、W、Hf、Sc、Sn、Mo、Cs等42种元素.着重研究了C、N、F、a、La、Ce、Nd、Ge、YU、BS和Cl等元素的测量条件和存在问题;并研究了痕量元素的背景选择和谱线重叠校正的问题.方法的检出限,精密度和准确度绝大多数能满足覆盖区多目标地球化学调查样品的质量要求.
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内容分析
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文献信息
篇名 X射线荧光光谱法测定土壤和水系沉积物等样品中碳、氮、氟、氯、硫、溴等42种主次和痕量元素
来源期刊 分析试验室 学科 化学
关键词 土壤和水系沉积物 X射线荧光光谱法 粉末样品压片
年,卷(期) 2008,(11) 所属期刊栏目 研究报告与研究简报
研究方向 页码范围 51-57
页数 7页 分类号 O657.3
字数 2504字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-0720.2008.11.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张勤 中国地质科学院物化探研究所 83 1441 20.0 35.0
2 李国会 中国地质科学院物化探研究所 34 595 14.0 23.0
3 樊守忠 中国地质科学院物化探研究所 10 267 7.0 10.0
4 潘宴山 中国地质科学院物化探研究所 8 234 6.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
土壤和水系沉积物
X射线荧光光谱法
粉末样品压片
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