低杂波电流驱动下HT-7超导托卡马克逃逸电子行为

• 作者: 卢洪伟 林士耀 江勇 胡立群
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 托卡马克低杂波 逃逸电子 硬X射线 轫致辐射
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 747-750
• 页数: 4页
• 分类号: O536|O532
• 字数: 1908字
• 语种: 中文

摘要

HT-7托卡马克的逃逸电子诊断系统由CdTe,BGO,Na三种探测器组成,可以用来观测逃逸电子撞击托卡马克第一壁材料产生的硬X射线轫致辐射,它的能量响应范围是0.3～1.5 MeV.结合电子回旋辐射、中子等诊断手段,研究了HT-7超导托卡马克在低杂波电流驱动下的逃逸电子行为.实验结果显示:高功率低杂波的关断和低功率低杂波的投入都会增强逃逸电子的产生,但是如果低杂波可以将等离子体环电压降低到逃逸的阈值电场以下,低杂波的投入就可以抑制电子的逃逸.逃逸电子的产生还和低杂波功率有着密切的关系,可以通过控制低杂波的投入和关断的时刻以及改变低杂波功率来抑制逃逸电子的产生.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡立群	中国科学院等离子体物理研究所	44	164	5.0	10.0
2	林士耀	中国科学院等离子体物理研究所	14	37	4.0	4.0
3	卢洪伟	中国科学院等离子体物理研究所	7	22	3.0	4.0
4	江勇	中国科学院等离子体物理研究所	7	65	3.0	7.0