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摘要:
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浅谈测量系统分析在品质控制中的运用
测量系统
特性
品质控制
能力判别
基于PCI总线的印品质量检测系统设计实现
PCI总线
多通道
CPLD控制器
图像处理
直方图在系统分析中的运用
统计分析
直方图
索赔
质量控制
信息工程方法论在系统分析与设计中的应用--YLC MIS系统分析与设计
管理信息系统
系统分析与设计
信息工程方法论
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 EE9200型印品质量在线检测系统分析
来源期刊 印刷技术 学科
关键词
年,卷(期) 2008,(22) 所属期刊栏目 厂商信息
研究方向 页码范围 71-72
页数 2页 分类号
字数 1231字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-1960.2008.22.021
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王小芳 30 42 3.0 5.0
2 孙建明 36 45 3.0 5.0
传播情况
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引文网络
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2014(1)
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2016(1)
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  • 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
印刷技术
月刊
1003-1960
11-2291/TS
大16开
北京市海淀区翠微路2号
2-82
1957
chi
出版文献量(篇)
18421
总下载数(次)
4
总被引数(次)
4050
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