一种基于FAT文件系统的NAND Flash坏块处理方法

• 作者: 刘昊 罗晓
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 神经信号 中枢神经系统 CMOS 卡肤电极
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 有关处理方法设计等
• 页码范围: 716-719
• 页数: 4页
• 分类号: TP333.3
• 字数: 2993字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.02.085

摘要

NAND Flash具有高存储密度和高存储速率的特点,在嵌入式系统领域得到了广泛应用.但其固有的擦除机制和存在有坏块这一致命弱点,成为其在应用中的主要障碍.本文提出了一种应用于FAT文件系统上的坏块处理方法,使用Flash上其他的空闲块或者空闲空间来代替坏块,并将坏块在FAT表中作出标记以后不作使用.这种方法彻底屏蔽了坏块对上层应用的影响,并对存储介质没有造成任何不良影响,从而很好地克服了上述障碍.工程项目中的应用证明了其较高的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘昊	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	40	408	12.0	19.0
2	罗晓	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	1	23	1.0	1.0