纳米阻抗显微镜的研制及商品化

• 作者: 丁喜冬 关景新 吴浚瀚 黄龙飞
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 纳米阻抗 扫描探针显微镜 商品化
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: "2008第七届中国国际纳米科技(武汉)研讨会"论文专辑
• 页码范围: 165-168,172
• 页数: 5页
• 分类号: TN16
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2008.10.042

摘要

纳米阻抗显微镜(Nanoscale impedance microscopy,NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质,已经成为纳米材料表征的重要工具,得到越来越多的应用;但其应用目前仅局限于实验室范围,而国内尚未有纳米阻抗显微镜研究的文献报道.本文主要介绍纳米阻抗显微镜的基本原理及其仪器的研制.以国内外现有的扫描探针显微镜仪器为基础,研制出了两套不同的纳米阻抗显微镜样机,并率先实现了这种技术的商品化,还利用该技术开展了氧化锌多晶陶瓷材料的应用研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁喜冬	中山大学物理科学与工程技术学院	18	60	5.0	6.0
2	吴浚瀚		2	6	2.0	2.0
3	关景新	中山大学物理科学与工程技术学院	2	4	2.0	2.0
4	黄龙飞	中山大学物理科学与工程技术学院	1	2	1.0	1.0