航天继电器寿命试验技术的探讨

• 作者: 任立 余琼 翟国富
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 继电器 寿命试验 寿命预测 加速寿命试验
• 年，卷（期）: 2008,（21）
• 所属期刊栏目: 检测技术
• 页码范围: 60-62,65
• 页数: 4页
• 分类号: TM581
• 字数: 3048字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2008.21.017

摘要

论述了航天继电器寿命试验技术在航空航天系统可靠性中的重要性,简述了国内外继电器可靠性寿命试验的研究现状,指出其存在的主要问题.在兼顾和参考传统寿命试验方法的基础上,提出了将寿命预测方法和加速寿命试验方法有机结合的寿命试验方法总体设计思想,并研制了相应的寿命试验装置.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学军用电器研究所	280	2576	26.0	34.0
2	余琼	哈尔滨工业大学军用电器研究所	6	105	5.0	6.0
3	任立	哈尔滨工业大学军用电器研究所	2	23	2.0	2.0