特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的235U裂变靶厚度

• 作者: 刘林月 欧阳晓平 王宝慧 黑东炜
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 特征荧光X射线吸收谱 235弱U 裂变材料 质量厚度测量 铍基底
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 物理
• 页码范围: 997-1000
• 页数: 4页
• 分类号: O571.43|O434
• 语种: 中文

摘要

研究发展了一种基于特征荧光X射线吸收谱的、可精确测量裂变物质质量厚度的方法,系统分析了测量不确定度.实验结果表明,该方法可有效测定基于铍膜的235U裂变靶质量厚度,测量不确定度小于5%,其不确定度主要来源于测量的统计性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	欧阳晓平		99	283	9.0	11.0
2	黑东炜		26	90	6.0	7.0
3	刘林月		15	21	3.0	4.0
4	王宝慧		2	3	1.0	1.0