SF6密度继电器校验系统的设计与开发

• 作者: 刘春元 王双林 袁德虎
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: SF6密度继电器 Beattie-Bridgman 压力换算
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 51-54
• 页数: 4页
• 分类号: TP216
• 字数: 2510字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9492.2008.02.019

摘要

本系统以W78E516B单片机为核心,采集SF6密度继电器中SF6气体的压力和温度值,然后依据Beattie-Bridgnmn状态方程,利用牛顿迭代法对这些数据进行处理,从而完成对SF6密度继电器在报警、闭锁动作时SF6密度值的测量,并自动换算成200℃时的对应标准压力值.该系统可以方便地、准确地对任意环境温度下的各种SF6密度继电器进行报警、闭锁性能校验.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘春元	上海交通大学机械与动力工程学院	8	37	5.0	6.0
2	袁德虎	上海交通大学机械与动力工程学院	5	11	2.0	3.0
3	王双林	日照职业技术学院机电工程学院	8	10	2.0	2.0