原文服务方: 原子能科学技术       
摘要:
采用低能X射线对低原子序数(低Z)泡沫样品进行透射照相,以胶片作为记录介质,对材料密度进行测量.描述了测量方法的原理、系统的组成及测量数据的获取及其分析.采用此方法可实现泡沫样品密度的小批量测量.基于测试图像分析,可获得不同泡沫样品的平均密度、密度均方差、密度分布图像.该测量技术为CH泡沫类靶材制备工艺的进一步改善提供了有力的分析测试手段.
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文献信息
篇名 低Z泡沫材料密度测量
来源期刊 原子能科学技术 学科
关键词 低能X射线 CH泡沫材料 密度分布
年,卷(期) 2008,(9) 所属期刊栏目 技术及应用
研究方向 页码范围 847-850
页数 4页 分类号 TG139
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 马小军 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 36 107 5.0 8.0
2 高党忠 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 44 290 11.0 15.0
3 罗青 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 5 50 4.0 5.0
4 贾鹏 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 12 32 4.0 5.0
5 叶成刚 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 4 19 3.0 4.0
6 李宝荣 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 1 4 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
低能X射线
CH泡沫材料
密度分布
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
原子能科学技术
月刊
1000-6931
11-2044/TL
大16开
北京275信箱65分箱
1959-01-01
中文
出版文献量(篇)
7198
总下载数(次)
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总被引数(次)
27955
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