一种高速片内电流监控器实现

• 作者: 冯建华 郭慧
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 电流监控器 IDDQ IDDQ测试 BICS 测试速度
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 页码范围: 140-143
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

静态电流(IDDQ)测试的实现方法研究是IDDQ测试领域的重要内容之一,高速、高精度是共同追求的目标.通过分析测试向量改变时流过被测电路的电源电流变化情况,得出制约IDDQ测试速度的主要因素.基于此,采用CMOS 0.5μm工艺参数、SPICE仿真工具和模拟集成电路设计规则,提出一种快速、高精度的BICS(片内电流监控器)的设计方案.设计中利用辅助的PMOS开关管和延迟电路,有效地解决测试速度问题.设计出的电路达到了100MHz的 测试速率、1A测量精度、500mV的最大电源电压降、50μA以上的故障电流检测能力,可以满足一定的实际应用需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯建华	北京大学微电子系	14	77	5.0	8.0
2	郭慧	北京大学深圳研究生院	7	126	3.0	7.0