一种测量RTD串联电阻的新方法

• 作者: 于欣 宋瑞良 张世林 梁惠来 毛陆虹 牛萍娟 王伟 郭维廉
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: RTD参数 串联电阻的测量方法 RTD器件性能表征
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 950-953
• 页数: 4页
• 分类号: TN313+.2
• 字数: 2126字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2008.05.028

摘要

根据RTD峰值电压VP与串联电阻RS、外加电阻Rex的关系,提出一种新的测量RTD串联电阻RS的方法.实验证明该方法具有准确、简便、快速等特点.文中给出VP与RS,Rex关系的推导,RS测量原理、测量结果和与其他RS测量方法的比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛陆虹	天津大学电子信息工程学院	165	736	12.0	20.0
2	牛萍娟	天津工业大学信息与通信学院	123	617	13.0	17.0
3	张世林	天津大学电子信息工程学院	109	334	8.0	11.0
4	郭维廉	天津工业大学信息与通信学院	145	419	10.0	12.0
6	王伟	天津工业大学信息与通信学院	21	65	4.0	7.0
7	宋瑞良	天津大学电子信息工程学院	15	43	4.0	5.0
8	于欣	天津工业大学信息与通信学院	13	48	4.0	6.0