基于边界扫描技术的复杂电子设备系统级测试研究

• 作者: 刘晓斌 管壮根 袁大伟 陈健
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 系统级测试 MTM-BUS
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1795-1797,1805
• 页数: 4页
• 分类号: TP36
• 语种: 中文

摘要

以提高复杂电子设备系统级测试能力为目的,在对边界扫描技术进行研究的基础上,论述和总结了基于边界扫描的电子设备系统级测试的硬件结构、测试方案和测试装置,并提出了软件系统的结构设计;同时,按照IEEEl149.5标准的MTM-BUS总线进行了结构设计和功能仿真;实验结果表明,基于边界扫描的系统级测试技术能够广泛应用于现代电子设备,特别是MTM-BUS总线结构具有快速、准确、简单等特点;该研究和设计不仅对复杂电子设备系统级测试技术进行了总结,而且对改善电子设备系统级测试性能具有十分重要的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈健		4	34	3.0	4.0
2	刘晓斌		4	20	3.0	4.0
3	袁大伟		3	6	1.0	2.0
4	管壮根		1	6	1.0	1.0