基于AD5933的阻抗频谱测试系统设计与实现

• 作者: 刘志军 幸会 黄兆祥 黎步银
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: AD5933 阻抗频谱 误差
• 年，卷（期）: 2008,（29）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 288-290
• 页数: 3页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.29.117

摘要

通过对元件进行阻抗频谱的测量,可以获取元件更有价值的数据.本文设计了以AD5933为核心的复阻抗频谱测试电路,简要介绍了测试流程及软件的编写,最后根据实际测试数据,对影响测量精度的因素进行了分析.本测试系统阻值范围为100Ω～10MΩ,能够满足一般阻抗频谱测试的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黎步银	华中科技大学电子科学与技术系	55	340	10.0	14.0
2	刘志军	华中科技大学电子科学与技术系	11	142	6.0	11.0
3	黄兆祥	华中科技大学电子科学与技术系	9	70	5.0	8.0
4	幸会	华中科技大学电子科学与技术系	1	23	1.0	1.0