一种可重用MCU核测试平台的设计

• 作者: 娄孝祥 李伟 许盛 高明伦
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试平台(testbench) MCU IP 可重用
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 测试系统与组件
• 页码范围: 97-100
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 2386字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2008.01.030

摘要

随着IP核的规模日益增大,测试的复杂度也越来越大,本文针对MCU核的特点,介绍一种可重用测试平台的结构,并且设计了测试平台实例以完成对8051 IP核的测试.