GE在世界无损检测大会上展示新技术

• 来源期刊: 自动化信息
• 学科: 工学
• 关键词: 无损检测 世界 GE 涡流探伤仪 技术 视频内窥镜 射线成像 FLEX
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 页码范围: 8
• 页数: 1页
• 分类号: TP334.22

摘要

GE传感与检测科技不久前在上海召开的世界无损检测大会（WCNDT）上展出了其在无损检测（NDT）领域的最新解决方案。作为此次大会的主赞助商，该公司推出了一系列引人注目的产品，其中包括：第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XL Go、CRx Flex计算机射线成像扫描仪（专为NDT领域开发）、Phasec 3系列便携式涡流探伤仪以及全新的Phasor系列便携式相控阵探伤仪。