缺陷管理的度量

• 作者: 余明亮 罗云锋 贲可荣
• 来源期刊: 舰船电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷管理 缺陷数据库 Pareto图
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 计算机与网络
• 页码范围: 115-118
• 页数: 4页
• 分类号: TP31
• 字数: 3190字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1627-9730.2008.02.037

摘要

描述缺陷数据库的构造方法,总结基于缺陷数据库的Pareto图分析方法以及缺陷过滤矩阵分析方法.缺陷过滤矩阵可以追踪缺陷源,检查缺陷在开发过程中的传播.基于缺陷过滤矩阵,可以分析缺陷移除效率以及其对软件成本的影响,预测潜在软件缺陷和可靠性增长曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贲可荣	海军工程大学计算机系	96	531	13.0	18.0
2	罗云锋	海军工程大学计算机系	8	52	4.0	7.0
3	余明亮	海军工程大学计算机系	1	2	1.0	1.0