原文服务方: 计算机测量与控制       
摘要:
为了达到较高的故障覆盖率,研究了一种可把存储器板故障定位到器件级的测试生成方法;该方法首先从功能上对电路从控制总线、数据总线、地址总线以及RAM组进行分块,再结合路径敏化法使测试接近实际工作状况激活故障点的方式编写测试激励,最后通过数字仿真软件--LASAR仿真软件生成可加载到众多测试系统上的符合国际标准数字测试交换格式DTIF(IEEE 1445)的标准测试数据;仿真结果表明,该方法操作简单、有效,故障覆盖率达到了90%,是一种程可行的存储器板测试生成方法.
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文献信息
篇名 一种存储器板的测试生成技术研究与实现
来源期刊 计算机测量与控制 学科
关键词 存储器板 路径敏化 测试生成方法 LASAR
年,卷(期) 2008,(10) 所属期刊栏目 自动化测试
研究方向 页码范围 1402-1404
页数 3页 分类号 TP306
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 程江涛 15 81 5.0 8.0
2 张波 7 212 4.0 7.0
3 宁小玲 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
存储器板
路径敏化
测试生成方法
LASAR
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机测量与控制
月刊
1671-4598
11-4762/TP
大16开
北京市海淀区阜成路甲8号
1993-01-01
出版文献量(篇)
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