全息干涉法测量Ⅰ型结构面KⅠ技术路线

• 作者: 伍法权 刘海燕 胡秀宏
• 来源期刊: 岩土力学
• 关键词: 全息干涉法 应力强度因子 几何影响因子 工程岩体
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 页码范围: 3124-3127,3143
• 页数: 5页
• 分类号: TB877
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7598.2008.11.042

摘要

岩体Ⅰ型结构面应力强度因子KⅠ是岩体的一个重要参数,求取KⅠ的过程需确定结构面几何影响因子γ.根据修正的Feddersen公式,可以制作出与工程岩体Ⅰ型结构面具有相同的试验岩石模型.根据激光全息干涉法两次曝光法的理论,结合裂纹尖端的应力场方程组、平面光弹性的应力-光定律,建立新的标准化试验方法和算法,可以构建出使用激光全息干涉法2次曝光法测量工程岩体Ⅰ型结构面应力强度因子KⅠ的试验技术路线,该法具有条纹易识别,精度高的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	伍法权	中国科学院地质与地球物理研究所工程地质力学重点试验室	128	3500	31.0	55.0
2	胡秀宏	中国科学院地质与地球物理研究所工程地质力学重点试验室	13	74	5.0	8.0