基于遗传算法斜向探测电离层参数反演研究

• 作者: 宋鹏 徐彤
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 遗传算法 电离层 反演 斜向探测
• 年，卷（期）: 2008,（19）
• 所属期刊栏目: 军事通信
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TP18
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.19.006

摘要

斜向探测是电离层探测的主要方式之一,它能够获得电波传播群时延和频率关系的电离图.由于传输信号的媒质是电离层,因此斜测电离图包含了收发站之间电离层状态信息,通过对斜测电离图的反演可以提取电离层的状态信息.利用遗传算法,对斜向探测电离层参数进行了反演,获得了较好的结果,展示了该方法在电离层参数反演研究中的优点和实际应用前景.结果证明该方法具有一定的抗噪能力,具有良好的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋鹏	西安工程大学电子信息学院	34	140	7.0	9.0
2	徐彤	西安电子科技大学理学院	11	39	4.0	5.0