CMOS集成电路瞬态电流片外电流传感器电路

• 作者: 李向军 李春明
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: CMOS集成电路 瞬态电流 有阻开路 测试技术
• 年，卷（期）: 2008,（14）
• 所属期刊栏目: 传感器技术
• 页码范围: 192-194
• 页数: 3页
• 分类号: TP206+.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.14.062

摘要

瞬态电流(IDDT)测试经常被看作是静态电流(IDDT)测试的替代或补充,特别在深亚微米技术中,受到越来越多的关注.根据一种基于电荷的瞬态电流片外电流传感器电路,并在其基础上进行改进并对两阶多米诺加法器电路进行仿真实验,实验结果表明,改进后的电路能有效读取集成电路中的瞬态电流,从而实现瞬态电流的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李春明	内蒙古工业大学信息工程学院	45	138	7.0	9.0
2	李向军	内蒙古工业大学信息工程学院	1	3	1.0	1.0