无源RFID标签天线印刷工艺品质的数学模型研究

• 作者: 刘彩凤 柳赛男 王忠于
• 来源期刊: 包装工程
• 学科: 工学
• 关键词: RFID 标签天线 印刷工艺品质 线性回归模型
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 技术专论
• 页码范围: 46-47
• 页数: 2页
• 分类号: TS801.1
• 字数: 1476字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3563.2008.11.017

摘要

分析了无源RFID标签天线印刷制造过程中存在的问题,提出了用多元线性模型控制印刷工艺品质的思路,并针对印刷网版目数和墨层厚度两个工艺参数,构建了与天线总阻抗之间关系的线性回归数学模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘彩凤		49	187	8.0	11.0
3	柳赛男		10	43	3.0	6.0
6	王忠于		1	4	1.0	1.0