薄膜厚度对La1.85Sr0.15CuO4薄膜结构和超导电性的影响

• 作者: 张鹰子 祖敏 闻海虎
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: La1.85Sr0.15CuO4薄膜 超导电性 晶体结构
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 7257-7261
• 页数: 5页
• 分类号: TN3|O4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2008.11.090

摘要

使用直流同轴磁控溅射法,在SrTiO3(STO)衬底上成功制备出c取向的La1.85Sr0.15CuO4(LSCO)超导薄膜.通过电输运测量系统和X射线衍射仪研究了薄膜厚度对LSCO(x＝0.15)薄膜电学性质和晶体结构的影响.实验证明随着膜厚增加,(006)衍射峰的半高宽(Full Width at Half Maximum,FWHM)逐渐减小,薄膜的取向性增强,与此同时,薄膜的超导转变温度TC逐渐提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闻海虎	中国科学院物理研究所超导国家重点实验室	19	103	7.0	9.0
2	祖敏	中国科学院物理研究所超导国家重点实验室	1	5	1.0	1.0
3	张鹰子	中国科学院物理研究所超导国家重点实验室	2	5	1.0	2.0