组扩展编码在测试数据压缩中的应用

• 作者: 梁华国 王保青 詹文法
• 来源期刊: 计算机应用
• 学科: 工学
• 关键词: 测试数据压缩 变长-变长的编码 组扩展编码
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 典型应用
• 页码范围: 2701-2703,2724
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.12|TP391
• 字数: 3588字
• 语种: 中文

摘要

为了减少SoC芯片的测试数据,提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案.该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由标记位、前缀和尾部组成.组扩展码将每组的容量扩大了一倍,能有效压缩芯片测试数据量.理论分析和实验结果表明组扩展编码能取得很好的压缩效果,而且能够更好地适应于不同的测试电路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	詹文法	合肥工业大学计算机与信息学院	15	205	8.0	14.0
5	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
6	王保青	合肥工业大学计算机与信息学院	1	6	1.0	1.0