电子元器件老炼试验技术

• 作者: GAO Cheng WANG Xiangfen 张栋
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 老炼 元器件 最优化 最优老炼时间
• 年，卷（期）: 2008,（16）
• 所属期刊栏目: 元器件与应用
• 页码范围: 189-191
• 页数: 3页
• 分类号: TN304.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.16.060

摘要

老炼是对电子元器件施加应力,剔除有缺陷的元器件的过程.长时间的老炼会对一些原本健康的器件寿命产生影响,但是时间过短却又不能起到很好地剔除有缺陷的元器件的目的.在相关文章的基础上总结了哪类电子元器件适合进行老炼,以及元器件老炼时间的优化问题,提出电子元器件老炼的3个准则,电子元器件最优老炼时间的确定问题,以及元器件老炼发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张栋		24	177	7.0	12.0
2	GAO Cheng		1	14	1.0	1.0
3	WANG Xiangfen		1	14	1.0	1.0