低端嵌入式系统中物理量回归算法的优化

• 作者: 刘伟 沈安东 王宜怀
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 低端嵌入式系统 A/D 物理量回归 查表法
• 年，卷（期）: 2008,（18）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 分类号: TP311
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.18.011

摘要

在A/D转换过程中,物理量回归的速度直接影响到系统的性能.首先探讨在低端嵌入式系统中两种物理量回归的常用方法:公式法和查表法.在具体应用实例的基础上,分析比较这两种常用的方法,对它们算法的时间空间复杂度分析,指出其不足之处.然后参考操作系统中分页的思想,把一维表改成二维表,对查表法进行优化.而后分析具体情况又做了进一步优化,分析得出优化后程序在时间空间上都有很大的改进.最后指出在其他低端嵌入式产品开发中,该方法同样适用,并总结其在嵌入式系统与PC机程序开发的不同点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘伟	苏州大学计算机科学与技术学院	63	110	6.0	8.0
2	王宜怀	苏州大学计算机科学与技术学院	251	1538	18.0	27.0
3	沈安东	苏州大学计算机科学与技术学院	23	92	5.0	8.0