瞄准精度对中子半影成像的影响

• 作者: 丁永坤 蒲以康 袁永腾 赵宗清 郝轶聃
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 空间线性不变性 瞄准精度 展宽效应 图像畸变
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 流体、等离子体和放电
• 页码范围: 5756-5760
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2008.09.064

摘要

在Monte carlo方法模拟中子半影成像的基础上,对视场内点的空间线性不变性进行了研究.在视场范围内,离轴点产生了与离轴距离成正比的展宽现象,但点的积分强度保持了很好一致性,证明系统满足线件不变性假设.利用这一结果,分析r瞄准精度对成像系统的影响.结果表明:靶心在物面上的径向偏差应控制在50um之内;物距误差控制应在300um以内;编码孔旋转弧度须小于0.1 mrad.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵宗清	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	23	70	5.0	7.0
3	蒲以康	清华大学工程物理系	11	317	8.0	11.0
4	丁永坤	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	49	181	7.0	10.0
5	郝轶聃	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	8	18	2.0	4.0
6	袁永腾	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	12	31	4.0	5.0