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摘要:
分析了目前存在的几种温度测量方式,结合监控领域温度测量的实际要求,从DS1820的主要技术特性入手,着力介绍了美国达拉斯半导体公司(Dallas Semiconductor Corp.)生产的多点数字测温计DS1820的软、硬件特点,并给出一个具体的测试实例.
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内容分析
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文献信息
篇名 多点数字测温技术介绍
来源期刊 福建电脑 学科 工学
关键词 温度传感器 数字测温 ROM地址码 CRC校验 时隙 单线总线系统
年,卷(期) 2008,(3) 所属期刊栏目 研究与探讨
研究方向 页码范围 48-49
页数 2页 分类号 TP3
字数 2843字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1673-2782.2008.03.030
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研究主题发展历程
节点文献
温度传感器
数字测温
ROM地址码
CRC校验
时隙
单线总线系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
福建电脑
月刊
1673-2782
35-1115/TP
大16开
福州市华林邮局29号信箱
1985
chi
出版文献量(篇)
21147
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86
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