RFID中间件基准性能测试平台研究与设计

• 作者: TAN Jie 季刚 赵科侠
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: RFID 中间件 基准性能 软件测试
• 年，卷（期）: 2008,（23）
• 所属期刊栏目: RFID射频识别
• 页码范围: 238-240
• 页数: 3页
• 分类号: TP39
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.23.099

摘要

RFID中间件作为RFID技术应用的神经中枢,其性能的优劣直接影响整个RFID系统的性能.本文针对RFID中间件的特点,提出了一套衡量RFID中间件基准性能的参数及其测试方法,并介绍了在此基础上的自动化测试平台软件的设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季刚	中国科学院自动化研究所	4	10	2.0	3.0
2	赵科侠	中国科学院自动化研究所	1	7	1.0	1.0
3	TAN Jie	中国科学院自动化研究所	1	7	1.0	1.0