原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
红外焦平面阵列响应率的非均匀性是制约红外成像质量的主要因素.考虑实时处理的需要,基于温度定标两点校正法,进行ASIC设计.在阐述芯片结构基础上介绍各种模式功能.ASIC设计具有实时性好、体积小、性价比高的优点,适用于红外成像系统进行高速实时处理.最后给出在具有自主知识产权SoC芯片Garifield4上的算法验证结果.
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文献信息
篇名 红外焦平面阵列非均匀校正算法的ASIC设计
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 红外焦平面阵列 非均匀性校正 ASIC 两点法
年,卷(期) 2008,(2) 所属期刊栏目 图像分析
研究方向 页码范围 142-144
页数 3页 分类号 TP274
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.02.048
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张萌 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心 57 299 8.0 14.0
2 肖鹏 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心 7 30 2.0 5.0
3 杜洪华 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心 2 27 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
红外焦平面阵列
非均匀性校正
ASIC
两点法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
总下载数(次)
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总被引数(次)
135074
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