基于DSP的多频带混合信号测试系统

• 作者: 冯建科 蒋常斌 郭仕瑞 高剑
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 混合信号 A/D D/A DSP 测试技术
• 年，卷（期）: 2008,（14）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: TP20|TN30
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.14.014

摘要

根据现代芯片削造和测试技术的趋势,论述当今混合信号测试的特点和要求,阐明国内外混合信号测试现状,探讨混合信号传统测试方法的不足.针对国内测试设备制造业的现实情况,提出一种新的混合信号测试方案,该方案基于高速数字信号处理技术,成本低廉、遵循标准化和模块化的设计思路,解决了多种频带的混合信号测试问题,是业内现实情况下测试设备制造业的一个探索.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高剑		16	58	5.0	7.0
2	冯建科		9	78	4.0	8.0
3	蒋常斌		6	43	3.0	6.0
4	郭仕瑞		1	2	1.0	1.0