ASM图在时序电路测试生成中的应用研究

• 作者: 吴海亮 戴光华 熊家军
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: ASM图 测试序列生成 状态图
• 年，卷（期）: 2008,（18）
• 所属期刊栏目: 软件时空
• 页码范围: 243-244,209
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.18.098

摘要

随着电路规模的不断扩大,将测试技术向高层次推进,提高测试的效率成为数字系统测试的必然要求.本文研究了基于ASM图的时序电路测试向量生成方法.该方法根据电路的功能描述构造ASM图,然后将其转换为状态图,利用有限状态机的有关知识构造测试向量,最后通过软件仿真和实测验证说明测试向量的正确性.该方法生成的测试向量能体现系统的功能,且具有较高的故障覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊家军	空军雷达学院信息与指挥自动化系	62	441	8.0	20.0