EPON上行通信性能物理层关键技术研究

• 作者: SHI Jun 张俊杰 洪亮
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 光线路终端 CRC 校验 以太无源光网络
• 年，卷（期）: 2008,（21）
• 所属期刊栏目: 网络与通信
• 页码范围: 84-85,78
• 页数: 3页
• 分类号: TN929.11
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.21.034

摘要

本文针对EPON上行突发传输的特点,在物理层上分析了影响上行突发传输性能的关键技术,并针对这些关键技术提出了实现方案,利用Verilog硬件描述语言编写了验证代码,进行了仿真.实际EPON系统测试结果表明传输误码率小于0.03%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张俊杰	上海大学特种光纤与光接入网教育部重点实验室	37	131	6.0	10.0
2	洪亮	上海大学特种光纤与光接入网教育部重点实验室	4	27	3.0	4.0
3	SHI Jun	上海大学特种光纤与光接入网教育部重点实验室	1	6	1.0	1.0