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摘要:
紧致空间中辐射场的统计性质;部分耗尽S0I MOSFET总剂量效应与偏置状态的关系;北京大学高功率相干Terahertz光源设计;用振幅比值方法预言中性粲介子衰变到CP本征态的CP不对称性;对北京谱仪上新观测态的一个理论解释;在ILC上用γγ→Z过程检验非对易时空标度;
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文献信息
篇名 高能物理学
来源期刊 中国学术期刊文摘 学科 工学
关键词 高能物理学 MOSFET 总剂量效应 统计性质 紧致空间 光源设计 北京大学 不对称性
年,卷(期) 2008,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 79-80
页数 2页 分类号 O572.33|TN386.1
字数 语种 中文
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高能物理学
MOSFET
总剂量效应
统计性质
紧致空间
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北京大学
不对称性
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中国学术期刊文摘
半月刊
1005-8923
11-3501/N
北京市海淀区学院南路86号
chi
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1982
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