一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型

• 作者: 勾朗 姜楠 张荣辉 舒风笛 车美儒
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 软件可靠性增长模型 非齐次泊松过程 软件缺陷关联
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 所属期刊栏目: 软件技术与数据库
• 页码范围: 44-46
• 页数: 3页
• 分类号: TP311
• 字数: 3283字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2008.08.015

摘要

非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型(NHPP-SRGMs)是评价软件产品可靠性指标的有效工具,但大多数该类模型都未考虑软件缺陷关联这一测试过程中普遍存在的现象.该文在考虑软件缺陷关联关系的基础上对缺陷进行分类,提出一个改进的NHPP类软件可靠性增长模型.在一组失效数据上的实验分析表明,改进的模型具有较好的拟合效果和预测能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜楠	中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室	34	333	10.0	17.0
5	车美儒	中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室	2	14	2.0	2.0
9	勾朗	中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室	2	14	2.0	2.0
13	张荣辉	中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室	10	128	5.0	10.0