ARM9为平台的智能综合电子测试仪的研究

• 作者: 任斌 赖树明 陈卫
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: ARM 嵌入式系统 FPGA 数据采集
• 年，卷（期）: 2008,（34）
• 所属期刊栏目: 传感器与仪器仪表
• 页码范围: 136-137
• 页数: 2页
• 分类号: TP274|TM935
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.34.058

摘要

本文介绍了一种综合测试仪的设计思想、实现方案.该方案以ARM为处理器,以FPGA为数字载体,借助高速AD和DA芯片,有效地完成高速数据采集和数据处理,同时有效地实现人机交互.实验表明该设计有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈卫	东莞理工学院电子工程系	20	85	5.0	8.0
2	任斌	东莞理工学院电子工程系	49	340	10.0	16.0
3	赖树明	东莞理工学院电子工程系	23	101	5.0	9.0