激光衍射光栅测试仪的设计与实现

• 作者: 张平川 李聪 黄兆祥 黎步银
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 衍射光栅测试仪 AVR单片机 光电探测器 激光二极管
• 年，卷（期）: 2008,（34）
• 所属期刊栏目: 传感器与仪器仪表
• 页码范围: 96-97,83
• 页数: 3页
• 分类号: TP216+.1|TN707
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.34.042

摘要

激光二极管衍射光栅光斑亮度比和透过率的测定是影响VCD、DVD等设备中激光读写头以及光学镜头质量的关键因素.本设计采用高性能单片机AVR Atmegal6L设计并实现了650nm激光衍射光栅测试仪,对衍射光栅0级和1级光斑亮度比和光栅透过率测试误差小于2%,方差小于2.2×10-3,满足了光栅测试的精度和稳定性要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黎步银		55	340	10.0	14.0
2	李聪		26	144	7.0	11.0
3	黄兆祥		9	70	5.0	8.0
4	张平川		7	42	4.0	6.0