基于嵌入式系统的设备测试系统设计

• 作者: 王竹林 耿杰恒 贾春宁
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 嵌入式系统 测试系统 S3C2410
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 嵌入式系统应用
• 页码范围: 31-32,26
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.11.014

摘要

将嵌入式技术引入测试系统设计,实现系统的小型化是测试系统设计的必然趋势.本文以嵌入式Linux和ARM9系列的S3C2410微处理器芯片为平台,从硬件和软件两个方面,阐述了基于嵌入式技术的设备测试系统的设计和实现过程,并对关键技术做了详细的分析,对实现测试系统的小型化和设备的随行保障有一定的现实意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王竹林	石家庄军械工程学院四系	2	5	1.0	2.0
2	耿杰恒	石家庄军械工程学院四系	1	5	1.0	1.0
3	贾春宁	上海南京军代局上海代表室	1	5	1.0	1.0