基于最小二乘法原理的趋势项处理研究

• 作者: 吴夏平 王福明
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: X射线 趋势项 最小二乘法 F检验
• 年，卷（期）: 2008,（30）
• 所属期刊栏目: 软件时空
• 页码范围: 254-255
• 页数: 2页
• 分类号: TP391.45|TJ410.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.30.102

摘要

在复合材料成型过程中,经常会出现各种缺陷,如裂纹、掺杂、气泡等,这些缺陷对复合材料的性能影响很大.经常利用x射线对复合材料进行内部缺陷检测,而构件中趋势项的存在,降低图像的对比度,影响材料内部缺陷检测的效果,因而非常有必要将其去除.本文分析了趋势项产生的原因以及对检测的影响,研究了最小二乘拟合趋势项的方法,提出了基于误差统计分析的方法来选择拟合阶数.实验证明了该方法的有效性以及可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王福明		75	581	11.0	20.0
2	吴夏平		2	28	2.0	2.0