FPGA配合预失真技术的解调误码测试仪

• 作者: YANG Dong-kai ZHU Lin 李署坚
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: FPGA QPSK 硬件设计检验 误码测试 预失真
• 年，卷（期）: 2008,（23）
• 所属期刊栏目: PLD CPLD FPGA应用
• 页码范围: 216-218
• 页数: 3页
• 分类号: TN914.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.23.090

摘要

介绍了一种以测试QPSK系统为基础的硬件设计检验方法,结合预失真技术对该测试系统的硬件总体规划及FPGA设计与实现进行了详细的论述,阐明了各个部分的工作原理.最后提出了实现解调同步的简易方法及误码率测试的具体实现.