环境因素对电容型设备介质损耗因数影响规律的试验研究

• 作者: 律方成 李和明 王永强
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: tanδ 温度 湿度 污秽 影响 试验
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 性能研究
• 页码范围: 55-58
• 页数: 4页
• 分类号: TM401.2|TM451.2|TM452.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2009.01.015

摘要

根据人工气候室内变压器套管介质损耗因数(tanδ)的在线测量结果.分析了环境因素对电容型设备的tanδ的影响,提出并建立了主要环境因素对tanδ影响的灰关联分析模型,计算得出了主要环境因素对tanδ影响的关联度.结果表明,在没有屏蔽环的情况下,温度、湿度和绝缘表面污秽程度对电容型设备的tanδ均有影响;在有屏蔽环的情况下,温度对电容型设备的tanδ的影响明显大于环境湿度和绝缘表面污秽度对其的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	律方成	华北电力大学电力系统保护与动态安全监控教育部重点实验室	266	4998	37.0	55.0
2	李和明	华北电力大学电力系统保护与动态安全监控教育部重点实验室	231	6023	39.0	65.0
3	王永强	华北电力大学电力系统保护与动态安全监控教育部重点实验室	67	681	12.0	23.0