光子相关光谱法纳米颗粒测定的准确性问题

• 作者: 刘桂强 周述苍 岳成凤 杨冠玲 陈超雄 韩鹏 黄洁彬
• 来源期刊: 中国粉体工业
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米颗粒测量 光子相关光谱 噪声干扰 分散介质 基线方法 噪声剔除
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页数: 6页
• 分类号: TB381

摘要

本文基于光子相关光谱法测粒原理,系统研究了影响该法测定纳米颗粒物有效直径和分散度的准确性的因素,包括如何配置实验系统及实验参数、信号获取中的干扰、使用的分散介质含杂质颗粒物的干扰以及数据处理中的基线选择等对测量结果的影响。本文通过多角度测量分析了测量装置的界面反射对cps值的影响,分析了噪声的来源和噪声对测量结果的影响。通过对纳米金及二氧化硅颗粒的测定,验证了信号接收角度和分散溶液介质的性质对测量结果的影响,指出选择不同基线的方法和采用噪声剔除技术,可减少或消除噪声的影响。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩鹏	华南师范大学物理与电信工程学院	47	147	7.0	9.0
2	杨冠玲	华南师范大学物理与电信工程学院	73	689	16.0	22.0
3	岳成凤	华南师范大学物理与电信工程学院	7	81	4.0	7.0
4	刘桂强	华南师范大学物理与电信工程学院	11	49	5.0	6.0
5	陈超雄	华南师范大学物理与电信工程学院	5	18	3.0	4.0
6	黄洁彬	华南师范大学物理与电信工程学院	3	8	2.0	2.0
7	周述苍	华南师范大学物理与电信工程学院	4	16	3.0	4.0