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摘要:
为了研究由1维特定掺杂光子晶体生成的孪生缺陷模与缺陷层厚度的关系,采用特征矩阵的方法进行了理论分析.结果表明,当整体改变这种缺陷层厚度时,孪生缺陷模低频和高频模位置的变化情况各不相同;当仅改变缺陷层的正折射率材料的厚度时,随着厚度增加,孪生缺陷模红移;当仅改变缺陷层负折射率材料的厚度时,随着厚度增加,缺陷模蓝移;并且孪生缺陷模透射率的变化也很复杂.这一结果为设计有特殊用途的光子晶体器件提供了理论依据.
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文献信息
篇名 缺陷层厚度对1维光子晶体孪生缺陷模的影响
来源期刊 激光技术 学科 物理学
关键词 物理光学 光子晶体 特征矩阵 孪生缺陷模
年,卷(期) 2009,(4) 所属期刊栏目 激光材料与光学元件
研究方向 页码范围 403-405,412
页数 4页 分类号 O436
字数 1956字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-3806.2009.04.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 闫珂柱 曲阜师范大学物理工程学院 24 73 5.0 7.0
2 姜迎迎 曲阜师范大学物理工程学院 4 4 1.0 2.0
3 王吉科 曲阜师范大学物理工程学院 4 4 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
物理光学
光子晶体
特征矩阵
孪生缺陷模
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