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摘要:
采用离子束溅射方法在单晶Si(100)基片上沉积厚度为100nm的Al2O3薄膜,利用原子力显微镜、X射线光电子能谱、掠入射衍射等微观分析手段,研究了薄膜的表面形貌、粗糙度、成分,及退火后微观结构的变化.研究表明:室温沉积在基片上的纳米薄膜为非晶态,纳米颗粒为无方向性沉积,颗粒呈团球状,其成分基本满足Al2O3的标准成分配比.850℃×6h退火处理后,生成晶态的γ-Al2O3薄膜表面结晶完整,颗粒清晰可见.
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关键词热度
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文献信息
篇名 离子束沉积Al2O3纳米薄膜微观结构及形貌研究
来源期刊 材料热处理学报 学科 工学
关键词 纳米薄膜 离子束沉积 掠入射衍射 退火
年,卷(期) 2009,(1) 所属期刊栏目 表面改性
研究方向 页码范围 166-169
页数 4页 分类号 TG174.44
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林晓娉 河北工业大学材料科学与工程学院 44 189 7.0 11.0
2 王晓东 河北工业大学材料科学与工程学院 41 185 8.0 12.0
3 王铁宝 河北工业大学材料科学与工程学院 39 186 7.0 11.0
4 张建军 河北工业大学材料科学与工程学院 95 799 15.0 25.0
5 何丽静 河北工业大学材料科学与工程学院 3 9 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
纳米薄膜
离子束沉积
掠入射衍射
退火
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期刊影响力
材料热处理学报
月刊
1009-6264
11-4545/TG
大16
北京市海淀区学清路18号北京电机研究所内
82-591
1980
chi
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