用Scherrer公式计算晶粒度应注意的几个问题

• 作者: SHE Yue-nian 沈岳年 郭金玲
• 来源期刊: 内蒙古师范大学学报（自然科学汉文版）
• 学科: 教育
• 关键词: Scherrer公式 晶体尺寸 晶粒度
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 学科教学研究
• 页码范围: 357-358
• 页数: 2页
• 分类号: G642
• 字数: 1285字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8735.2009.03.028

摘要

在XRD谱图中,用Scherrer公式估算晶体尺寸时,应注意半高峰宽βhkl的修正.βhkl由两部分组成,一是晶粒细化,二是仪器或X射线本身所固有的,称为工具宽化.运用Scherrer公式时应扣除工具宽化,否则会引起较大误差,同时应注意Dhkl的方向性,它有时能给出晶体形状的信息.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈岳年	内蒙古大学化学化工学院	38	462	12.0	20.0
2	郭金玲	内蒙古工业大学化工学院	6	119	3.0	6.0
3	SHE Yue-nian	内蒙古工业大学化工学院	1	91	1.0	1.0