电磁脉冲作用下计算机死机故障研究

• 作者: 侯民胜 田宇
• 来源期刊: 航天电子对抗
• 学科: 工学
• 关键词: 核电磁脉冲 单片机系统 死机 加固
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 电子战技术
• 页码范围: 47-49,57
• 页数: 4页
• 分类号: TN97|TP368.2
• 字数: 3039字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2421.2009.06.015

摘要

为研究核电磁脉冲对计算机系统的效应,利用核电磁脉冲源产生的模拟核电磁脉冲,对单片机系统进行了辐照效应实验.实验表明,单片机系统在核电磁脉冲作用下,可出现死机等多种故障现象.在实验的基础上,分析了死机产生的原因及加固方法,并通过实验验证了指令冗余、软件陷阱和看门狗等措施对防止单片机死机的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯民胜		47	317	11.0	15.0
2	田宇		5	9	2.0	3.0